愛德萬參展SEMICON China 發表5G最新IC測試方案

出版時間 2019/03/15
愛德萬參展SEMICON China,發表5G最新IC測試方案。資料照片
愛德萬參展SEMICON China,發表5G最新IC測試方案。資料照片

半導體測試設備領導廠商愛德萬測試將於3月20~22日,在上海新國際博覽中心(SNIEC)所舉行的SEMICON China,為中國市場提供10餘種最新、最先進的測試系統和服務。
 
愛德萬測試的展覽將包括今年2月從Astronics 公司獲得的半導體系統級測試事業的介紹。
 
愛德萬測試表示,將透過產品現場示範和展出,提供最先進的測試解決方案。包括V93000可擴充式平台,採用最新IC測試解決方案和服務來支援人工智慧技術;FVI16 浮動電源  VI source,則可延伸V93000平台的功能,以涵蓋更廣的測試範圍,包括汽車、工業和電源管理IC (PMIC) 應用的先進IC等。
 
另外,供系統級測試用的T2000平台、以及MMXHE和 RECT550EX模組,可讓T2000系統更有效地測試油電混合、電動車動力傳動系統之中使用的設備。愛德萬測試同時展示並讓參加者可直接觀察T2000測試平台的應用方式,藉此提高更多類型的車用電子產品,諸如感應、控制、處理、電力相關之設備和模組的性能與可靠性。(楊喻斐/台北報導)

 
 


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