愛德萬測試前進韓國　展出最新半導體測試設備

出版時間 2018/01/29

IC測試設備龍頭廠愛德萬測試將在1月31日至2月2日於首爾舉行的SEMICON Korea展示最新先進測試解決方案。

愛德萬測試將展示先進IC測試解決方案，包括專為次世代RF IC設計的V93000 Wave Scale平台、針對高速記憶體IC測試的V93000 HSM16G系統，以及為顯示器驅動IC (DDI) 打造的T6391測試機台。

愛德萬測試同時還展出T2000平台的各種配置，譬如小型測試機台T2000 AiR，是為了因應物聯網 (IoT) 裝置量少但高度整合 (Low Volume and High Mix) 的系統級測試需求；為PMIC和24位元音訊解編碼器測試需求所設計的T2000 IPS；用於高速CMOS影像感測器測試的T2000 ISS；以及T2000 RECT680 0.35mm pitch IC高階測試介面。

在創新測試解決方案方面，愛德萬測試將展示由EVA100測量系統與HA7200組成的溫度與壓力測試單位，用於類比、數位和混合訊號元件量產級測試；專為測試高效能通用快閃儲存裝置和固態硬碟 (SSD) 而設計，成本效益表現優異的T5851系統；以及瞄準SSD測試需求，富彈性的MPT3000系列測試機台。

此外，愛德萬測試大受好評的T5503系列也將於會上展出，該系列針對行動應用和伺服器所使用之次世代記憶體IC提供最佳解決方案。

除此之外，隨著半導體製程持續演進，愛德萬測試亦將展示探針卡、高速記憶體裝置介面以及電子束度量與微影解決方案，包括能滿足1X奈米節點技術所需解析度的F7000電子束微影工具，和E3310、E3640、E5610掃描式電子顯微鏡 (SEM) 度量系統。（楊喻斐/台北報導）

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愛德萬半導體測試設備