​中芯長電記憶體測試需求旺 愛德萬獲大單

出版時間 2017/12/14
中芯長電記憶體測試需求旺,愛德萬獲大單。資料照片
中芯長電記憶體測試需求旺,愛德萬獲大單。資料照片

中國第一大封測廠中芯長電對於記憶體測試需求暢旺,半導體測試設備大廠愛德萬測試獲得大筆採購訂單,此多功能測試機台為SPI NOR快閃記憶體提供測試解決方案。
 
愛德萬測試(Advantest)宣布與中國江陰市半導體中段製程(MEOL)測試服務領導者中芯長電正式簽訂大量採購合約。據此合約,中芯長電將自愛德萬測試購入大量的記憶體測試系統T5830,用於測試串列週邊介面(SPI) NOR快閃記憶體裝置,而在有機發光二極體(OLED)與觸控面板感應晶片(TDDI)迅速成長的帶動下,SPI  NOR快閃記憶體裝置需求持續走強。

中芯長電半導體執行長崔東表示,中芯長電對於與愛德萬測試簽訂策略性合約感到非常高興,並期許在業務範圍拓及持續成長的記憶體市場以及研發更複雜的3D IC之際,持續維持雙方公司之間的合作關係。

中芯長電過去就曾安裝愛德萬測試測試系統V9300以測試高速數位與精度類比IC。而此次是中芯長電首次向愛德萬測試購買記憶體測試系統。

愛德萬測試總裁兼執行長Yoshiaki Yoshida表示,中國的人口與人均收入不斷增加,帶動NOR快閃記憶體產業成長。企業基礎建設發展日趨成熟以及包含中芯長電在內的產業主要參與者規模不斷擴大,成為帶動市場成長的助力。
 
愛德萬於2016年推出的T5830記憶體測試機功能一應俱全,能為廣泛用於行動電子裝置的各式快閃記憶體低,提供最佳化的低成本大量測試能力。T5830系統能執行晶圓測試並為低腳位到高腳位IC提供最終測試,可為客戶創造可觀的投資回報(ROI)並降低他們的財務風險。

T5830系統採用愛德萬測試獨特的Tester-per-Site架構,因此每個Site都能獨立運作,有助加快測試時間並降低測試成本。此系統亦包含具可擴展性的內建大電流可編程電源(PPS)。

T5830系統資料傳輸速度最快可達800 Mbps,並能在配置4個數位腳位情況下,同時測試多達2,304個裝置。除了測試NOR快閃裝置,T5830系統也支援NAND快閃裝置、智慧卡、單列直插式記憶體(SIM)、電子抹除式可複寫唯讀記憶體(EEPROM)以及其他嵌入式快閃記憶體。

愛德萬測試將於12月13日至15日在東京舉辦的SEMICON Japan 2017國際半導體展,展示T5830記憶體測試機在內的領先測試解決方案。(楊喻斐/台北報導)



 


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